Møderne i december fokuserer på EMC-testfaciliteter og -testudstyr.
Der bliver to store internationale tilbud på dagen. Det første er Pablo Corralles, som er på besøg hos Force for at lære om EMC-nærfeltsscanninger gennem COST IC1407 projektet, der videndeler om stokastisk støj fra trådløse enheder. Det andet er både mere internationalt og mere lokalt, for det er danske Morten Sørensen, der efter 11 år hos Bang & Olufsen nu arbejder i USA for Missouri University of Science & Technology og Amber Precision Instrument med immunitets- og nærfeltscanninger. Da Morten arbejder i USA, vil vi have ham på via en Skype session, hvor han kan fortælle om, hvordan man kan bruge immunitets- og nærfeltsscanninger som diagnostiseringsværktøj og til pre-compliance test.
Derudover skal vi have set på en masse udstyr. Både Peter Herbst fra Go Measure og Kenneth Rasmussen fra Rhode & Schwarz har lovet at tage noget demo-udstyr med, som vi kan se på i pauserne. Desuden vil Peter fortælle om det 3-fasede udstyr, som Force netop har købt, og de muligheder det giver for at teste på spændingsdyk, harmoniske, flicker, overspændinger og meget mere. Kenneth har taget de nyeste netværks- og spektrumanalysatorer med og vil vise de nye specifikationer, men også hvordan udstyret kan bruges til EMC-arbejde. Desuden vil han demonstrere RTO-oscilloskopet i pausen mellem Mortens to indlæg for at vise, hvordan vi benytter en strømspændingsprobe til at analysere energiforbruget i sammenhæng med EMC-egenskaberne.
OBS: Tilmeldingsfrist for mødet er tordag den 30. november 2017.
* Det er gratis for EMC Klubbens medlemmer at deltage med op til to deltagere.
Program
| Tid | Beskrivelse |
|---|---|
| 09.00 – 09.15 | Kaffe, morgenbrød |
| 09.15 – 09.45 | Introduktion til dagen, standardnyt og regulatoriske nyhed Anders P. Mynster, Force Technology og Knus Baltsen, Force Technology |
| 09.45 – 10.45 | Test af spændingsudfald, overspænding og flicker/harmonics på 3-fasede systemer Peter Herbst, Go Measure |
| 10.45 – 11.00 | Kaffe, videndeling – og demo af udstyr |
| 11.00 – 11.45 | Test of 5G phased array antennas with nearfield scanners Pablo Andres Corrales, NXP semiconductor/ISAE-supaero |
| 11.45 – 12.30 | Frokost – og demo af udstyr |
| 12.30 – 13.00 | EMC-troubleshooting med de nye ZNL- og FPL-netværks- og spektrumanalysatorer Kenneth Rasmussen, Rohde & Schwarz |
| 13.00 – 14.00 | Immunitets- og nærfeltsscanninger som diagnosticeringsværktøj og til pre-compliance test – del 1 Morten Sørensen, Missouri University of Science & Technology / Amber Precision Instruments |
| 14.00 – 14.20 | Kaffe og videndeling |
| 14.20 – 14.45 | EMC-troubleshooting med oscilloskop og V/I prober Kenneth Rasmussen, Rohde & Schwarz |
| 14.45 – 15.45 | Immunitets- og nærfeltsscanninger som diagnosticeringsværktøj og til pre-compliance test – del 2 Morten Sørensen, Missouri University of Science & Technology / Amber Precision Instruments |
| 15.45 – 16.00 | Afsluttende diskussion og afrunding Knud Baltsen, Force Technology |
Kontaktperson
Contact person
